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XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。

主要参数：

投影屏直径：

180mm

工作台尺寸：

方工作台尺寸：110×125mm

圆工作台直径：90mm

工作台玻璃直径：70mm

工作台行程：

纵向：±10mm

横向：

±10mm

升降：

±12mm（无刻度）

工作台转动范围：

0-360°（无刻度）

放大倍数：

仪器放大倍率：50X

物镜放大倍率：2.5X

投影物镜放大倍率：20X

光源（卤钨灯）：12V    100W

外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）

重量：约18Kg