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SUN-IRL1315插回损测试仪
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SUN-IRL1315插回损测试仪
SUN Telecom的SUN-IRL1315插回损测试仪广泛应用于光纤光缆、光无源器件和光纤通信系统的插损和回损测试，是广大生产厂商、科研机构和运营商用于生产检测、研究开发和工程施工维护必备的测试仪器
产品特点：
测试精度及稳定性高
测量范围大
一体化设计，可同时测量插损/回损
功率计模块波长与光源模块波长联动，操作简单
可配置FC/SC/ST多种形式可拆卸光源接头
LED 屏幕显示
金属外壳，美观坚实
应用范围：
光纤器件生产与研究
光纤网络测试与维护
光通讯教学与实验
技术指标：
工作波长：(nm)1310/1550
测试范围：(dB)0 ~ 75
校准波长：(nm)1310/1550
测试精度：(dB)0.25
输出稳定性：(dB/小时)0.05 ( @ 25℃)
接口类型：FC/APC
光插入损耗测试
校准波长：(nm)850/1300/1310/1550
测试范围：(dBm)+3 ~ -80
测试精度：(dB)0.25
显示分辨率对数：0.001dB；线性：0.001nw/μW/mW
测试模式：线形和非线性
接口类型：活动接口，FC/SC/ST/通用φ2.5mm/通用φ1.25mm等适配器
其它指标
电源(V)：AC 90-260
工作温度(℃)：-5 ~ +55
存储温度(℃)：-10~+70
外观尺寸(mm)：260 X 265 X 140
重量(kg)：3