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供应雷尼绍TP200测头TP200B测头体
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TP200系统组件包括：
? TP200或TP200B测头体（TP200B为变体，振动公差更大）
? TP200测针模块 — 选择固定超程测力：SF（标准测力）或LF（低测力）
? PI 200测头接口
? SCR200测针交换架
还有一种EO模块（长超程），超程力与SF相同，但工作范围更大，并在测头Z轴提供保护。
其特点及优点如下：
? 应变片技术具有无可比拟的重复性和精确的3D轮廓测量。
? 零复位误差。
? 无各向同性影响。
? 6向测量能力
? 测针测量距离达100 mm（GF测针）
? 快速测头模块交换，无需重新标定测尖
? 寿命 >1000万次触发
TP200 | TP200B | |
主要應用 | 需要高精度的DCC CMM。 | 和TP200相同，但是會發生「空氣」觸發的場合。 |
觸發方向 | 6軸：±X、±Y、±Z | 6軸：±X、±Y、±Z |
單向重複性（2s μm） | 觸發水平1：0.40 μm（0.000016英吋） 觸發水平2：0.50 μm（0.00002英吋） | 觸發水平1：0.40 μm（0.000016英吋） 觸發水平2：0.50 μm（0.00002英吋） |
XY（2D）形式量測偏差 | 觸發水平1：±0.80 μm（0.000032英吋） | 觸發水平1：±1 μm（0.00004英吋） |
XYZ（3D）形式量測偏差 | 觸發水平1：±1 μm（0.00004英吋） | 觸發水平1：±2.50 μm（0.0001英吋） |
探針更換重複性 | 帶SCR200：最大±0.50 μm（0.00002英吋） | 帶SCR200：最大±0.50 μm（0.00002英吋） |
觸發力（探針端部處） | XY平面（所有模組）：0.02 N | XY平面（所有模組）：0.02 N |
超行程觸發力（0.50 mm位移時） | XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 N | XY平面（SF/EO模組）：0.2 N到0.4 N |
重量（測頭感測器和模組） | 22 g（0.78盎司） | 22 g（0.78盎司） |
最大延長桿（如果在PH10系列測頭座上） | 300mm（11.81英吋） | 300mm（11.81英吋） |
最大建議探針長度（M2探針系列） | SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF | SF/EO模組：50 mm（1.97英吋）鋼到100 mm（3.94英吋）GF LF模組：20 mm（0.79英吋）鋼到50 mm（1.97英吋）GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的介面 | PI200、UCC | PI200、UCC |
探針模組更換架 | 自動：SCR200 | 自動：SCR200 |
探針系列 | M2 | M2 |